*مینا*
2nd November 2009, 11:14 PM
خبرگزاري دانشجويان ايران - تهران
سرويس: فناوري استراتژيك
پژوهشگران دانشگاه تهران، سطح کيفيت ميکروسکوپ‌هاي نيروي اتمي را براي انجام عمليات تصويربرداري و نيز بهبود دقت دستکاري در مقياس نانو بالا بردند.
به گزارش سرويس پژوهشي خبرگزاري دانشجويان ايران(ايسنا)، مهندس امير فرخ‌پيام، دانشجوي دكتري نانوالكترونيك، پروژه‌اي را با هدف بالا بردن كيفيت و دقت تصويربرداري ميكروسكوپ نيروي اتمي در دانشگاه تهران انجام داده و براي نيل به اين مهم، سيستم تخمينگر تغييرات سطح نمونه و تركيب آن با كنترل‌كننده پيشرفته را طراحي كرده است.
وي درباره نحوه انجام اين کار چنين گفت: «روش انجام اين پژوهش بر اساس طراحي مشاهده‌گري تطبيقي به منظور تخمين ارتفاع و تغييرات سطح نمونه با استفاده از روش‌هاي غيرخطي تطبيقي و تركيب آن با كنترل كننده‌اي غير خطي (كه بر اساس روش خطي‌سازي بازخورد حالت خروجي كار مي‌كند) است؛ لذا در ابتدا ميكروسكوپ نيروي اتمي و نيروهاي مرتبط با كار آن در ابعاد نانو، مدل‌سازي و تغييرات سطح نمونه‌ها و ذرات مختلف در ابعاد نانو مورد ارزيابي قرار گرفت. در ادامه با طراحي رويتگر و كنترل‌كننده، سيستم طراحي شده با مدل ميكروسكوپ، تركيب و با انجام شبيه‌سازي‌هاي كامپيوتري و تحليل عددي، صحت الگوريتم ارائه شده مورد ارزيابي قرار گرفت و در نهايت با ديگر روش‌هاي متداول مقايسه شد.»
با اين ميکروسکوپ نيروي اتمي مي‌توان تغييرات سطح نمونه را براي تصويربرداري در مد غير تماس به صورت هم‌زمان و در سرعتي بسيار بالا انجام داد كه در نهايت منجر به افزايش قدرت تفكيك تصوير، بالا رفتن سرعت روبش و نيز افزايش صحت تصوير و همچنين بالا رفتن كيفيت و وضوح آن در برابر اغتشاشات محيط، همچون لرزش‌هاي وارد بر ميكروسكوپ و سيستم اندازه‌گيري موقعيت سوزن ميكروسكوپ مي‌شود.
جزئيات اين پژوهش که با همکاري دكتر مرتضي فتحي‌پور و دكتر محمدجواد يزدان‌پناه انجام شده، در مجله Digest Journal of Nanomaterials and Biostructures منتشر شده است.
انتهاي پيام
سرويس: فناوري استراتژيك
پژوهشگران دانشگاه تهران، سطح کيفيت ميکروسکوپ‌هاي نيروي اتمي را براي انجام عمليات تصويربرداري و نيز بهبود دقت دستکاري در مقياس نانو بالا بردند.
به گزارش سرويس پژوهشي خبرگزاري دانشجويان ايران(ايسنا)، مهندس امير فرخ‌پيام، دانشجوي دكتري نانوالكترونيك، پروژه‌اي را با هدف بالا بردن كيفيت و دقت تصويربرداري ميكروسكوپ نيروي اتمي در دانشگاه تهران انجام داده و براي نيل به اين مهم، سيستم تخمينگر تغييرات سطح نمونه و تركيب آن با كنترل‌كننده پيشرفته را طراحي كرده است.
وي درباره نحوه انجام اين کار چنين گفت: «روش انجام اين پژوهش بر اساس طراحي مشاهده‌گري تطبيقي به منظور تخمين ارتفاع و تغييرات سطح نمونه با استفاده از روش‌هاي غيرخطي تطبيقي و تركيب آن با كنترل كننده‌اي غير خطي (كه بر اساس روش خطي‌سازي بازخورد حالت خروجي كار مي‌كند) است؛ لذا در ابتدا ميكروسكوپ نيروي اتمي و نيروهاي مرتبط با كار آن در ابعاد نانو، مدل‌سازي و تغييرات سطح نمونه‌ها و ذرات مختلف در ابعاد نانو مورد ارزيابي قرار گرفت. در ادامه با طراحي رويتگر و كنترل‌كننده، سيستم طراحي شده با مدل ميكروسكوپ، تركيب و با انجام شبيه‌سازي‌هاي كامپيوتري و تحليل عددي، صحت الگوريتم ارائه شده مورد ارزيابي قرار گرفت و در نهايت با ديگر روش‌هاي متداول مقايسه شد.»
با اين ميکروسکوپ نيروي اتمي مي‌توان تغييرات سطح نمونه را براي تصويربرداري در مد غير تماس به صورت هم‌زمان و در سرعتي بسيار بالا انجام داد كه در نهايت منجر به افزايش قدرت تفكيك تصوير، بالا رفتن سرعت روبش و نيز افزايش صحت تصوير و همچنين بالا رفتن كيفيت و وضوح آن در برابر اغتشاشات محيط، همچون لرزش‌هاي وارد بر ميكروسكوپ و سيستم اندازه‌گيري موقعيت سوزن ميكروسكوپ مي‌شود.
جزئيات اين پژوهش که با همکاري دكتر مرتضي فتحي‌پور و دكتر محمدجواد يزدان‌پناه انجام شده، در مجله Digest Journal of Nanomaterials and Biostructures منتشر شده است.
انتهاي پيام